สถานที่กำเนิด:
จีน
ชื่อแบรนด์:
SAIMR
ได้รับการรับรอง:
CE
หมายเลขรุ่น:
SAIMR5000
ติดต่อเรา
ระบบทดสอบครบวงจรของสายไฟฟ้าความดันต่ํา SAIMR5000 อัตโนมัติ
SAIMR5000 เครื่องทดสอบสายไฟฟ้าอัตโนมัติ
1รายละเอียด
ระบบการทดสอบครบวงจรของสายไฟฟ้าความดันต่ําของ Saimr Electronics Technology Co., Ltd. ในซูโจวเป็นเครื่องทดสอบสายเชือกที่ใช้ในการตรวจสอบอย่างรวดเร็วของสายเชือกที่ซับซ้อนต่างๆ. ระบบนี้สามารถตรวจสอบแม่นยําวงจรเปิด, วงจรสั้น, และการวางผิดในสายการทดสอบ, เช่นเดียวกับการนํา, ความดันทนทาน, การกัน, LCR, และ diode การทดสอบด้านเดียว.ซอฟต์แวร์ทดสอบคอมพิวเตอร์ด้านบนที่นํามาช่วยผู้ใช้ได้อย่างรวดเร็วตรวจพบปัญหาในสายไฟและการวัดในห้องปฏิบัติการ.
2.FATURE
ระบบการทดสอบครบวงจรสายไฟฟ้าความดันต่ํา SAIMR5000 ของ Suzhou Saimr Electronics Technology Co., Ltd มีลักษณะดังต่อไปนี้: - สามารถตรวจสอบวงจรเปิดได้อย่างแม่นยําวงจรสั้น, และความผิดพลาดในสายไฟที่ทดสอบ, เช่นเดียวกับการนํา, ทนความแรงดัน, การปิด, LCR, และการทดสอบไดโอเดสด้านเดียว- โปรแกรมทดสอบคอมพิวเตอร์ด้านบนที่นํามาช่วยผู้ใช้ได้เห็นปัญหาในสายไฟ- สามารถตอบสนองความต้องการของสายการผลิต การตรวจสอบที่เข้ามาและการวัดห้องปฏิบัติการ
3รายละเอียด
| การทดสอบความดันต่ํา | SAIMR5000 | |
| รูปแบบการทดสอบ | 4-สายหรือ 2-สาย (การทดสอบผสม) | |
| จํานวนจุด | 128/256/512/1024...20480 | |
| โครงการทดสอบ | ระยะทดสอบ | ความแม่นยําของการทดสอบ |
| การทดสอบระบบปฏิบัติการ (ความดัน 5V) | 2 kΩ -200 kΩ (ไม่จํากัด 20 KΩ -1000 KΩ) | ± 5% |
| การทดสอบความต้านทานต่อความละเอียด | 1MΩ-10 GΩ(30V-1500V) | 1MΩ ~ 100MΩ: ± 2% |
| 100MΩ ~ 1GΩ: ± 5% | ||
| 1GΩ ~ 10GΩ: ± 10% | ||
| การทดสอบความต้านทาน DC | 0.1Ω-1MΩ | < 100k: ± 1% |
| > 100k: ± 5% | ||
| การทดสอบความต้านทานสี่สายในตัว | 0.1Ω-1MΩ | ± 0.5%+0.05Ω |
| การทดสอบความต้านทานสี่สายต่อเนื่องภายนอก | 10μΩ ~ 100Ω | ± 0.2%+5μΩ |
| การทดสอบ NTC 4 สาย (10k, 100k) | การตัดสินอุณหภูมิ (ความแม่นยํา 0.1°C) | ผู้ใช้สามารถกําหนดตาราง RT ตัวเองสําหรับการตัดสินความต้านทานและอุณหภูมิ |
| การตัดสินความต้านทาน (ความแม่นยํา 10k: 1% 100k: 5%) | ค่าความต้านทานสามารถตัดสินตามอุณหภูมิในเวลาจริงของสภาพแวดล้อม | |
| การประเมินการเปรียบเทียบ (ความแม่นยํา 0.1 °C) | ความแตกต่างความต้านทานสูงสุดระหว่างชิ้นส่วนที่ทดสอบและชิ้นส่วนมาตรฐาน (ช่วง) | |
| การทดสอบ AC Hi-pot | 30V-1000V | ± 3% |
| การทดสอบ DC Hi-pot | 30V-1500V | ± 3% |
| การทดสอบปัจจุบันการรั่วไหล AC | 1μA-10mA | ± 3% |
| การทดสอบปัจจุบันการรั่วไหลแบบ DC | 0.1μA-5mA | ± 3% |
| การทดสอบ LCR | ความถี่: 50Hz-10 kHz | 100mΩ-20MΩ ± 2% |
| ประเภทการทดสอบ: ความต้านทาน / คอนเดเซเตอร์ / อินดูตันซ์ / อิมพิเดนซ์ / การนํา / การนํา | 10pF-100μF ± 2% | |
| ระดับการทดสอบ: 0.1V-1.5V | 10nH ~ 100H ± 2% | |
| ไดโอเดส / ไดโอเดสเซนเนอร์ | 0-10V | 0.1 mA / 1 mA (สัญญาณการทดสอบ) |
| ขนาด (mm) | 483*265*510 (1024P) | 483*183*510 (512P) |
| น้ําหนักสูงสุด (kg) | 25 | 17 |
| การตั้งค่าแบบมาตรฐาน | คู่มือการใช้งานใน U ዲስก์, สายไฟฟ้า, สายเครือข่าย, บอร์ดปรับพอร์ต, สายทดสอบ, กําหนดการ | |
| การตั้งค่าแบบเลือก | ความต้านทานมาตรฐานของอุปกรณ์ประกอบความหนาแน่น ความต้านทานมาตรฐานของระบบประกอบความหนาแน่น คอมพิวเตอร์อุตสาหกรรม คอมพิวเตอร์เดสก์ต็อป มอนิเตอร์ หนู คีย์บอร์ด เครื่องเสียง | |
4การใช้งาน
ส่งข้อสอบของคุณตรงมาหาเรา
